물체를 감지, 측정 및 인식합니다.

물체가 가로지르는 빔 수와 위치에 따라, Micron은 다음을 수행하기 위해 PLC 또는 PC에 실시간 정보를 제공할 수 있습니다:

• 물체의 유무를 감지
• 개체 수를 세기
• 위치 감지
• 모양 또는 윤곽 감지
• 치수 측정

빔 간격 및 탐지 거리

• 빔 간격 5 mm – 최대 감지 거리 2.5 m
• 빔 간격 10 mm – 최대 감지 거리 10 m
• 빔 간격 25 mm – 최대 감지 거리 18 m
• 빔 간격 30 mm – 최대 감지 거리 10 m
• 빔 간격 50 mm – 최대 감지 거리 18 m
• 빔 간격 75 mm – 최대 감지 거리 18 m

최대 3 m 높이까지 제어 가능.

작동 범위

• 빔 간격 5 mm
  일반 범위 – 저거리 범위 0 – 1 m, 장거리 타입 검출폭 0,6 – 2,5 m
  축소 범위 – 저거리 범위 0 – 0,6 m, 장거리 타입 검출폭 0,6 – 1,5 m
• 빔 간격 10 mm 및 30 mm
  일반 범위 – 저거리 범위 0 – 2 m, 장거리 타입 검출폭 1 – 10 m
• 빔 간격 25mm, 50mm 및 75mm
  일반 범위 – 저범위 0~8m, 장거리 타입 검출폭 1~18m
  축소 범위 – 저범위 0~3m, 장거리 타입 검출폭 0~8m

저거리 및 장거리 타입 검출폭 간하드웨어 선택은 에미터 커넥터 케이블(핀 2)을 통해 이루어집니다. 축소 거리는 소프트웨어를 통해 선택 가능합니다.

출력

• Micron MI AV (5, 25, 50, 75 mm)
  2개의 아날로그 출력(0/10 VDC mA), 프로그래밍 가능
  0 또는 24V의 솔리드 스테이트 프로그래밍 가능 디지털 출력 2개 (
  

  PNP 100 mA

  )

• Micron MI AV (10, 30 mm)
  2개의 아날로그 출력(0/10 VDC mA), 프로그래밍 가능
  0 또는 24V의 프로그래밍 가능한 솔리드 스테이트 디지털 출력 2개 (
  

  푸시-풀

  )